|
1
|
1-Настільний скануючий електронний мікроскоп JCM-6000 Neoscope II з елементним аналізатором, у розібраному стані. Призначення - отримання зображення зразків у широкому діапазоні збільшень (від 10 до 60 000 крат) та проводити мікроаналіз їх елементного складу з великою роздільною здатністю. Спосіб одержання зображення - сканування зразка тонко зфокусованим пучком електронів. Прилад використовується для вивчення будови металів, напівпроводників, кераміки та ін. Не є виробом медицинського призначення. Технічні характеристики: збільшення: х10 -х60000 (детектор вторинних електронів); х10 -х30000 (детектор зворотньо розсіяних електронів); прискорююча напруга: 5кВ, 10кВ, 15кВ; елементний аналіз: діапазон елементів: B-U; камера зразків: макс. діаметр зразка: 70мм, макс. висота зразка: 50мм.
|
ТОВАРИСТВО З ОБМЕЖЕНОЮ ВІДПОВІДАЛЬНІСТЮ ""ЮМДЖИ ІНВЕСТ""
|
N/A
|
2014-02-17
|
ЯПОНІЯ
|
133.30 кг
|
|
2
|
1-Сушильна барабанна установка MOZER TT 120/8 D GB A G з пальником та з топкою, оснащена фiльтром. Являє собою обертову сушарку, призначена для безперервного сушiння мiкросфер (зольнi порожнистi алюмосилiкатнi мiкросфери, використовуються
|
""ТОВАРИСТВО З ОБМЕЖЕНОЮ ВІДПОВІДАЛЬНІСТЮ """"ЮМДЖИ ІНВЕСТ""""""
|
ALLGAIER Process Technology GmbH
|
2013-11-06
|
UA
|